Pliskin, W.A., Conrad, E.E. (1964) Une technique simple pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction de couches transparentes sans les altérer. Journal de Physique, 25. 17-20 doi:10.1051/jphys:01964002501-201700
| Reference Type | Journal (article/letter/editorial) | ||
|---|---|---|---|
| Title | Une technique simple pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction de couches transparentes sans les altérer | ||
| Journal | Journal de Physique | ||
| Authors | Pliskin, W.A. | Author | |
| Conrad, E.E. | Author | ||
| Year | 1964 | Volume | 25 |
| Publisher | EDP Sciences | ||
| DOI | doi:10.1051/jphys:01964002501-201700Search in ResearchGate | ||
| Generate Citation Formats | |||
| Mindat Ref. ID | 10407008 | Long-form Identifier | mindat:1:5:10407008:8 |
| GUID | 0 | ||
| Full Reference | Pliskin, W.A., Conrad, E.E. (1964) Une technique simple pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction de couches transparentes sans les altérer. Journal de Physique, 25. 17-20 doi:10.1051/jphys:01964002501-201700 | ||
| Plain Text | Pliskin, W.A., Conrad, E.E. (1964) Une technique simple pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction de couches transparentes sans les altérer. Journal de Physique, 25. 17-20 doi:10.1051/jphys:01964002501-201700 | ||
| In | (n.d.) Journal de Physique Vol. 25. EDP Sciences | ||
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