Hofmann, R., Sterzel, W. (1992) Schwingungsspektroskopische Untersuchungen an SiO2-Clathraten. Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials, 200 (14) 101 doi:10.1524/zkri.1992.200.14.101
| Reference Type | Journal (article/letter/editorial) | ||
|---|---|---|---|
| Title | Schwingungsspektroskopische Untersuchungen an SiO2-Clathraten | ||
| Journal | Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials | ||
| Authors | Hofmann, R. | Author | |
| Sterzel, W. | Author | ||
| Year | 1992 (January 1) | Volume | 200 |
| Issue | 14 | ||
| Publisher | Walter de Gruyter GmbH | ||
| DOI | doi:10.1524/zkri.1992.200.14.101Search in ResearchGate | ||
| Generate Citation Formats | |||
| Mindat Ref. ID | 112997 | Long-form Identifier | mindat:1:5:112997:1 |
| GUID | 0 | ||
| Full Reference | Hofmann, R., Sterzel, W. (1992) Schwingungsspektroskopische Untersuchungen an SiO2-Clathraten. Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials, 200 (14) 101 doi:10.1524/zkri.1992.200.14.101 | ||
| Plain Text | Hofmann, R., Sterzel, W. (1992) Schwingungsspektroskopische Untersuchungen an SiO2-Clathraten. Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials, 200 (14) 101 doi:10.1524/zkri.1992.200.14.101 | ||
| In | (1992, January) Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials Vol. 200 (14) Walter de Gruyter GmbH | ||
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