FRITZSCHE, C. R., ROTHEMUND, W. (1972) ChemInform Abstract: UNTERSUCHUNG DER IONENIMPLANTATION UND TEMPEREFFEKTE IN SIO2-SCHICHTEN AUF SILICIUM DURCH OPTISCHE MESSUNGEN. Chemischer Informationsdienst, 3 (50) doi:10.1002/chin.197250046
Reference Type | Journal (article/letter/editorial) | ||
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Title | ChemInform Abstract: UNTERSUCHUNG DER IONENIMPLANTATION UND TEMPEREFFEKTE IN SIO2-SCHICHTEN AUF SILICIUM DURCH OPTISCHE MESSUNGEN | ||
Journal | Chemischer Informationsdienst | ||
Authors | FRITZSCHE, C. R. | Author | |
ROTHEMUND, W. | Author | ||
Year | 1972 (December 12) | Volume | 3 |
Issue | 50 | ||
Publisher | Wiley | ||
DOI | doi:10.1002/chin.197250046Search in ResearchGate | ||
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Mindat Ref. ID | 14651154 | Long-form Identifier | mindat:1:5:14651154:9 |
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Full Reference | FRITZSCHE, C. R., ROTHEMUND, W. (1972) ChemInform Abstract: UNTERSUCHUNG DER IONENIMPLANTATION UND TEMPEREFFEKTE IN SIO2-SCHICHTEN AUF SILICIUM DURCH OPTISCHE MESSUNGEN. Chemischer Informationsdienst, 3 (50) doi:10.1002/chin.197250046 | ||
Plain Text | FRITZSCHE, C. R., ROTHEMUND, W. (1972) ChemInform Abstract: UNTERSUCHUNG DER IONENIMPLANTATION UND TEMPEREFFEKTE IN SIO2-SCHICHTEN AUF SILICIUM DURCH OPTISCHE MESSUNGEN. Chemischer Informationsdienst, 3 (50) doi:10.1002/chin.197250046 | ||
In | (1972, December) Chemischer Informationsdienst Vol. 3 (50) Wiley |
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