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Lehmann, Jean, Phan, Kieu-Duong, Thiry, Médard (1985) Utilisation du microdiffractomètre de rayons X à compteur annulaire pour l'orientation relative des cristaux des lames de roche ou de minerai. Bulletin de Minéralogie, 108 (2) 233-244 doi:10.3406/bulmi.1985.7871

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Reference TypeJournal (article/letter/editorial)
TitleUtilisation du microdiffractomètre de rayons X à compteur annulaire pour l'orientation relative des cristaux des lames de roche ou de minerai
JournalBulletin de Minéralogie
AuthorsLehmann, JeanAuthor
Phan, Kieu-DuongAuthor
Thiry, MédardAuthor
Year1985Volume108
Issue2
PublisherPERSEE Program
DOIdoi:10.3406/bulmi.1985.7871Search in ResearchGate
Generate Citation Formats
Mindat Ref. ID403531Long-form Identifiermindat:1:5:403531:6
GUID0
Full ReferenceLehmann, Jean, Phan, Kieu-Duong, Thiry, Médard (1985) Utilisation du microdiffractomètre de rayons X à compteur annulaire pour l'orientation relative des cristaux des lames de roche ou de minerai. Bulletin de Minéralogie, 108 (2) 233-244 doi:10.3406/bulmi.1985.7871
Plain TextLehmann, Jean, Phan, Kieu-Duong, Thiry, Médard (1985) Utilisation du microdiffractomètre de rayons X à compteur annulaire pour l'orientation relative des cristaux des lames de roche ou de minerai. Bulletin de Minéralogie, 108 (2) 233-244 doi:10.3406/bulmi.1985.7871
In(1985) Bulletin de Minéralogie Vol. 108 (2) PERSEE Program

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