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Rautureau, M., Clinard, C., Tchoubar, C. (1974) Mise en évidence des canaux de la sépiolite par examen de coupes ultra minces en microscopie électronique à haute résolution. Journal of Applied Crystallography, 7 (2) 293-294 doi:10.1107/s0021889874009563

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Reference TypeJournal (article/letter/editorial)
TitleMise en évidence des canaux de la sépiolite par examen de coupes ultra minces en microscopie électronique à haute résolution
JournalJournal of Applied Crystallography
AuthorsRautureau, M.Author
Clinard, C.Author
Tchoubar, C.Author
Year1974 (April 1)Volume7
Issue2
PublisherInternational Union of Crystallography (IUCr)
DOIdoi:10.1107/s0021889874009563Search in ResearchGate
Generate Citation Formats
Mindat Ref. ID464487Long-form Identifiermindat:1:5:464487:7
GUID0
Full ReferenceRautureau, M., Clinard, C., Tchoubar, C. (1974) Mise en évidence des canaux de la sépiolite par examen de coupes ultra minces en microscopie électronique à haute résolution. Journal of Applied Crystallography, 7 (2) 293-294 doi:10.1107/s0021889874009563
Plain TextRautureau, M., Clinard, C., Tchoubar, C. (1974) Mise en évidence des canaux de la sépiolite par examen de coupes ultra minces en microscopie électronique à haute résolution. Journal of Applied Crystallography, 7 (2) 293-294 doi:10.1107/s0021889874009563
In(1974, April) Journal of Applied Crystallography Vol. 7 (2) International Union of Crystallography (IUCr)

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